INFLUÊNCIA DA VARIAÇÃO ESPACIAL DO TEC NA DEFINIÇÃO DO COMPRIMENTO DE LINHA DE BASE: ABORDAGEM TEÓRICA E PRÁTICA.

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William Rodrigo Dal Poz
Paulo de Oliveira Camargo

Resumo

Um dos principais problemas no posicionamento relativo com GNSS é a variação espacial do Conteúdo Total de Elétrons (TEC), que representa o número de elétrons contidos em uma coluna, cuja área da seção transversal é unitária (1m2). O TEC varia no tempo e no espaço, sendo altamente influenciado por variações diurnas e sazonais, ciclos solares, campo geomagnético, dentre outras variáveis. Devido à variação espacial do TEC, a dupla diferença das observáveis GNSS não cancela os erros devido à ionosfera, e sim minimiza. Este valor remanescente é denominado de resíduo ionosférico da dupla diferença. Durante períodos de alta variação espacial do TEC, este resíduo pode afetar de forma significativa os resultados obtidos no posicionamento relativo, fazendo com que possam ocorrer algumas inconsistências na definição do comprimento de linha de base. Este trabalho pretende apresentar para a comunidade geodésica a influência da variação espacial do TEC na definição do comprimento de linha de base, a partir de uma abordagem teórica e prática. Os resultados mostraram que se deve evitar classificar uma linha de base como curta ou média, visto que tal classificação é altamente dependente da variação espacial do TEC.

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Como Citar
DAL POZ, W. R.; CAMARGO, P. de O. INFLUÊNCIA DA VARIAÇÃO ESPACIAL DO TEC NA DEFINIÇÃO DO COMPRIMENTO DE LINHA DE BASE: ABORDAGEM TEÓRICA E PRÁTICA. Revista Brasileira de Cartografia, [S. l.], v. 60, n. 4, 2009. DOI: 10.14393/rbcv60n4-44862. Disponível em: https://seer.ufu.br/index.php/revistabrasileiracartografia/article/view/44862. Acesso em: 5 nov. 2024.
Seção
Artigos
Biografia do Autor

William Rodrigo Dal Poz, UNESP - Universidade Estadual Paulista

Programa de Pós-Graduação em Ciências Cartográficas

Paulo de Oliveira Camargo, UNESP - Universidade Estadual Paulista

Programa de Pós-Graduação em Ciências Cartográficas Departamento de Cartografia

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