REFINAMENTO FOTOGRAMÉTRICO DE CONTORNOS DE TELHADO EXTRAÍDOS DE DADOS DE VARREDURA A LASER

Conteúdo do artigo principal

Aluir Porfírio Dal Poz

Resumo

Este artigo apresenta um método para o refinamento fotogramétrico de contornos tridimensionais de telhado de edifício extraídos de dados de varredura a laser aerotransportado (VLA). A hipótese principal assumida é que as faces planares de um telhado de edifício, acuradamente extraídas de dados de VLA, e o contorno do mesmo telhado, acuradamente extraído de uma imagem aérea de altíssima resolução, podem ser combinados para melhorar o correspondente contorno de telhado extraído de dados de VLA. O método proposto baseia-se em três etapas. Inicialmente polígonos representando contornos de telhados são extraídos de imagens aéreas de alta-resolução. Na sequência, os segmentos de reta que compõem cada polígono de telhado de edifício são projetados sobre as correspondentes faces de telhado extraídas de dados de VLA, usando um novo modelo fotogramétrico. Finalmente, a reconstrução de cada contorno tridimensional de telhado é realizada através da conexão de todos os pares adjacentes de segmentos de reta obtidos na etapa anterior. Os resultados obtidos mostraram que a integração de uma imagem aérea de altíssima resolução e dados de VLA permite a obtenção de melhores resultados, quando comparados com os correspondentes resultados gerados usando apenas dados de VLA.

Downloads

Não há dados estatísticos.

Métricas

Carregando Métricas ...

Detalhes do artigo

Como Citar
DAL POZ, A. P. REFINAMENTO FOTOGRAMÉTRICO DE CONTORNOS DE TELHADO EXTRAÍDOS DE DADOS DE VARREDURA A LASER. Revista Brasileira de Cartografia, [S. l.], v. 66, n. 5, 2014. Disponível em: https://seer.ufu.br/index.php/revistabrasileiracartografia/article/view/44703. Acesso em: 18 maio. 2022.
Seção
Artigos
Biografia do Autor

Aluir Porfírio Dal Poz, Universidade Estadual Paulista

Faculdade de Ciências e Tecnologia

Artigos mais lidos pelo mesmo(s) autor(es)