REFINAMENTO FOTOGRAMÉTRICO DE CONTORNOS DE TELHADO EXTRAÍDOS DE DADOS DE VARREDURA A LASER

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Aluir Porfírio Dal Poz

Resumo

Este artigo apresenta um método para o refinamento fotogramétrico de contornos tridimensionais de telhado de edifício extraídos de dados de varredura a laser aerotransportado (VLA). A hipótese principal assumida é que as faces planares de um telhado de edifício, acuradamente extraídas de dados de VLA, e o contorno do mesmo telhado, acuradamente extraído de uma imagem aérea de altíssima resolução, podem ser combinados para melhorar o correspondente contorno de telhado extraído de dados de VLA. O método proposto baseia-se em três etapas. Inicialmente polígonos representando contornos de telhados são extraídos de imagens aéreas de alta-resolução. Na sequência, os segmentos de reta que compõem cada polígono de telhado de edifício são projetados sobre as correspondentes faces de telhado extraídas de dados de VLA, usando um novo modelo fotogramétrico. Finalmente, a reconstrução de cada contorno tridimensional de telhado é realizada através da conexão de todos os pares adjacentes de segmentos de reta obtidos na etapa anterior. Os resultados obtidos mostraram que a integração de uma imagem aérea de altíssima resolução e dados de VLA permite a obtenção de melhores resultados, quando comparados com os correspondentes resultados gerados usando apenas dados de VLA.

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Como Citar
DAL POZ, A. P. REFINAMENTO FOTOGRAMÉTRICO DE CONTORNOS DE TELHADO EXTRAÍDOS DE DADOS DE VARREDURA A LASER. Revista Brasileira de Cartografia, [S. l.], v. 66, n. 5, 2014. DOI: 10.14393/rbcv66n5-44703. Disponível em: https://seer.ufu.br/index.php/revistabrasileiracartografia/article/view/44703. Acesso em: 22 jul. 2024.
Seção
Artigos
Biografia do Autor

Aluir Porfírio Dal Poz, Universidade Estadual Paulista

Faculdade de Ciências e Tecnologia

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