Reis, E. M. .; Zanatta, M. .; Juliatti, F. C. .; Campos, H. D. .; Silva, L. H. C. P. .; Meyer, M. C. .; Nunes Junior, J. .; Pimenta, C. B. .; Cassetari Neto, D. .; Machado, A. Q. .; Utiamada, C. M. . A Critical-Point Yield Model to Appraise the Damage Caused to Soybean by White-Mold. Biosci. J. 2020, 36, 1816-1820.